精品学习资料--------------极力推荐 TOFD速成班内部培训考试题 姓名： 部门： 考分： 一． 判断题（10题，20分） 1. 同A超一样，TOFD也是根据波幅当量大小来判断缺陷大小的。 ( ) 2. 衍射波的特点：波幅低，方向性强，端点越尖锐衍射特性越明显。 ( ) 3. TOFD检测时接收信号既有纵波又有横波。 ( ) 4. 扫查增量越小，图谱分辨率越高。 ( ) 5. TOFD检测时Z方向上分辨力始终保持一致。 ( ) 6. 一幅合格的TOFD图像包括直通波，底面反射波和一次底面转化波。 ( ) 7. 减小PCS可以提高近场分辨力。 ( ) 8. 一般情况下，设置PCS时，声束聚焦在板厚的1/3处，以保证图像的一致性。 ( ) 9. 直通波和底面波的时间间隔包含的信号周期数越多，深度分辨力就越低。 ( ) 10. 纵波声速大约是横波的两倍，所以检测时，主要是以测量纵波信号为主。 ( ) 二． 选择题（10题，20分） 1. 以下哪个角度不是TOFD常用楔块角度？ ( ) A. 38度 B. 45度 C. 60度 D. 70度 2. 以下关于TOFD技术的优点中，说法错误的是： ( ) A. 检出率比A超要高 B. 对焊缝的检测效率比A超高 C. 测量缺陷大小比A超精准 D. 对缺陷的定性比A超准确 3. 以下关于TOFD技术的局限性中，说法错误的是： ( ) A. 存在近表面盲区，影响近表面缺陷的检测 B. 横向缺陷检测比较困难 C. 点状缺陷尺寸不易测量 D. 只能对平板对接焊缝检测 4. 以下关于TOFD检测信号相位中，说法错误的是： ( ) A. 下表面开口缺陷相位与裂纹下端点衍射波相位相同 B. 直通波相位与底面反射波相位相反 C. 底面反射波相位与裂纹上端点衍射波相位相同 1 / 3 精品学习资料--------------极力推荐 D. 上表面开口缺陷相位与底面反射波相位相反 5. 观察以下图像，评判正确的是： ( ) A. 左图中存在3个明显的缺陷：上表面开口缺陷，埋藏裂纹，下表面开口缺陷。 B. 左图中存在3个明显的缺陷：2个埋藏裂纹，下表面开口缺陷。 C. 左图中存在2个明显的缺陷：埋藏裂纹，下表面开口缺陷。 D. 左图中存在1个明显的缺陷：埋藏裂纹。 6. 下面说法错误的是： ( ) A. A扫的原始含义是幅度调制显示方式，横坐标为时间轴，纵坐标为波幅轴 B. B扫的原始含义是亮度调制显示方式，指扫查方向与探头声束方向平行的扫查方式 C. C扫在无损探伤中指的是扫查方向与探头声束方向垂直的扫查方式。 D. 0.5毫米的扫查增量意味着两条A扫波形间距为0.5毫米。 7. 下面说法正确的是： ( ) A. 由于TOFD近场分辨力比较弱，所以通过增加脉冲周期数可以增强近场分辨力。 B. TOFD仪器检测时，可以利用直通波，底面反射波，平底孔或者工件晶粒噪声设置灵敏度。 C. 由于TOFD不依赖于波幅当量，所以增益一般设置在30db~50db左右 D. PXUT-900探伤时，在调校模式下，要想进入其他功能，必须先关闭调校模式。 8. 下面哪个不是减小近表面盲区的办法： ( ) A. 减小PCS B. 采用高频探头 C. 减小楔块角度 D. 使用短脉冲探头 9. 在使用TOFD扫查厚板时要进行分层扫查，下面说法错误的是： ( ) A. 板厚大于50mm时，一般需要分层扫查。 B. 扫查深度越深，所利用的探头频率越小。 C. 扫查深度越深，所使用的楔块角度越小。 D. 扫查分层时，两层之间的覆盖必须达到20mm。 10. 与通用A超相比，TOFD仪器的特点不包括以下哪一点： ( ) A. 记录数据量大 B. 模拟带宽大 C. 测量精度高 D. 垂直线性误差小 三． 简答题（5题，20分） 1. TOFD技术中对缺陷的分类包括哪几种？ 2. 完整的TOFD仪器包括哪些部分？ 3. TOFD扫描是如何行成图像的，标准的TOFD的图谱由哪几部分组成？ 4. 7M-Φ3-60°探头与5M-Φ6-60°相比，有哪些优点和缺点？ 5.探测150mm厚焊缝，分三个区进行扫查，选择的探头为：第一对探头7MΦ3mm60°,第二对探头5MΦ6mm60°，第三对探头2.5MΦ6mm 45° （1）如果第一对探头聚焦在20mm，第二对探头聚焦在70mm，第三对探头聚焦在130mm，试计算各对探头的PCS=? (tan60=1.73 tan45=1) （2）第一对探头衍射角度=40°的深度是多少？(tan40=0.84) 2 / 3 精品学习资料--------------极力推荐 姓名： 四． 实操题（40分） 仪器型号：南通友联PXUT-900/910 探头：5MHz 楔块：60度 试块型号：____________ 步骤一、根据提供的TOFD检测仪器探头楔块和试板，测量或计算以下数据： 1、 单个探头延时（零点）_________微秒；单个探头入射点（前沿）________毫米。 2、 计算直通波到达时间（包括探头延时）______微秒。 3、 计算底面波到达时间（包括探头延时）______微秒。 步骤二、在试板上正确地调试仪器，校准编码器。扫查增量为________毫米。 步骤三、在试板上完成非平行扫查D扫成像， 用“姓名的首字母_日期”作为文件名称，存储数据。 文件名称：______________________________________ 步骤四：数据分析 1、 打开文件，测量试板的厚度（精确到0.1mm） _______毫米。 2、 缺陷评判： 编缺陷类型 埋深(mm) 自身高度起始位置长度(mm) 号 (mm) (mm) 3 / 3 本文来源：https://www.wddqw.com/doc/fefd27a9c8aedd3383c4bb4cf7ec4afe05a1b116.html