有關測試治具改善報告 一﹑針對客户提出之問題點﹐現說明如下﹕ 1﹑同一個治具安裝兩種探針 a﹑此治具為LAN-MATE本體與PCB組裝后測試治具﹐因為本體與PCB組裝后﹐一邊為PIN腳﹐需要安裝麻花形平頭探針﹐另一邊為基板﹐而PIN腳為孔狀﹐故必須使用錐形探針﹐方可接觸PIN腳內鍍金層﹐故治具上安裝為兩種探針。 b﹑如果用同一種錐形探針會造成PIN腳端(P端)接觸不良﹐平頭探針會造成PIN腳孔狀端(J端)接觸不良﹐且兩孔易短路。 2﹑測一顆產品需連續測試几次 a﹑此情況為探針鍍金層磨損造成接觸不良。 b﹑壓克力板凹槽長度或寬度磨損﹐造成產品錯位。 c﹑產品PIN腳不干淨造成接觸不良。 二﹑改善對策 1﹑第一個問題因為此治具受測試零件的限制﹐只能使用錐形和麻花狀兩種探針測試。(探針彈力與尺寸均相同) 2﹑對第2個問題改善如下﹕ a﹑根據治具維修記錄及繼電器﹑探針的壽命﹐規定每3個月對治具作保養。(工程) b﹑根據廠商提供的資料﹐其機械壽命可達1*106次(見物件一<探針機械壽命規格>)﹐基于安全及作業可靠性方面的考慮﹐本公司定為6*10次更換一次﹐生產統計探針使用次數(附表單５如物件二<治具使用登記表>)。 c﹑每1個月對壓克力板檢查看是否有明顯磨損狀況。(生產各課自己檢查) d﹑治具在工作中出現異常﹐立即停止測試﹐到工程檢驗處理后方可使用。 核准﹕ 審核﹕ 報告人﹕ 日期﹕ 本文来源：https://www.wddqw.com/doc/7b1a13967dd5360cba1aa8114431b90d6d8589f2.html