X光实验记录和报告要点 按序号记录 一、物质对X射线的吸收研究 1. 管压U=35.0kV，管流I=1.00mA，拍摄样品的荧光影像。（调整位置，拍摄完整、无反光） 2. 固定管流1.00mA，管压从35.0kV降至零，观察并记录荧光影像的变化。 （整体灰度变化规律，什么管压下，所有材料的影像均不能从荧光屏背景中分辨出？） 3. 固定管压35.0kV，管流从1.00mA降至零，观察并记录荧光影像的变化。 （整体灰度变化规律，什么管流下，所有材料的影像均不能从荧光屏背景中分辨出？） 二、调校测角器零点（零点正确，也要做以下调校） 1.粗扫曲线的三个判断（有无衍射峰？峰位置？峰计数率？）是否要调零？ 2.找到第一级Kα衍射峰，记录靶台和传感读数（β1、β2），最大计数率R。 3.靶台/传感器转到水平，按三键将测角器读数重置为零。 三、测量NaCl晶体的衍射曲线 1.手工绘制衍射曲线。（3级衍射峰），读出k=1，2，3衍射峰的位置（共六个），读出短波极限所在的位置βmin。（用以下表格形式记录） 2.管压逐渐增加，观察并记录衍射曲线的变化。 记录不同管压下短波极限的位置。 3.管流逐渐增加，观察并记录衍射曲线的变化。 （学会描述衍射曲线的方法） 2dsinβ = kλ k=1 Kα k =2 k =3 Kα Kβ 管压U/kV βmin λmin U*λmin 35.0 30.5 26.0 21.5 17.0 Kβ Kα Kβ β 晶面间距d 衍射曲线的 管压增加 管流增加 强度变化 特征峰是否始终出现 若无特征峰，记下 相应管压和管流 特征峰位置的变化 βmin的变化 课后：记录表述补充完整，分析现象和计算 一、物质对X射线的吸收研究 厚度/mm 铜 铝 牛皮纸 塑料 0.25 灰度值 灰度值 灰度值 灰度值 0.50 同左 同左 同左 同左 0.75 同左 同左 同左 同左 （选做，定量处理） 1.00 同左 同左 同左 同左 1.25 同左 同左 同左 同左 1.根据序号夹层材料依次为 。材料为 的夹层样品不能通过荧光影像看到内部结构？ 类似材料还有 。 2.管压和管流，谁对荧光影像的影响更大？为什么？ 3.你是如何通过不同管压/管流下的荧光影像，来理解管压和管流对发射谱的影响？ 四种材料吸收系数的关系 吸收随厚度变化最明显的材料 吸收和厚度关系 二、调校测角器零点 （补充完整课中记录的调零过程，体现三步骤） 1、画简图表示靶台和传感器调校前的零点位置和水平方向各有什么样的偏离？ 2、如果用其它晶体调零，有什么不一样？ 三、测量NaCl晶体的衍射曲线 1、在手工衍射曲线上标出短波极限、特征峰和衍射级次。 2、完成表中d，λmin的计算，取平均d作为结果，计算相对误差。验证λmin和管压的反比。 3、你是如何通过不同管压/管流下的衍射曲线，来理解管压和管流对发射谱的影响？ 4、推断钼K层电子结合能。 本文来源：https://www.wddqw.com/doc/48a407cc0708763231126edb6f1aff00bed57044.html